客户要求在生产的最早阶段进行FPA及成像芯片的基线特征描述，以帮助在尽量降低成本的同时明确区分关键性能和产出。
贴片生产线上的多端口测试单元和光谱辐亮度
蓝菲光学（Labsphere）设计了用来测试光谱量子效率(QE)，平场，线性度，动态范围和特殊定向设置的均匀辐照度系统。适用于镜片检测仪晶元探针，预封装芯片和原FPA级测试。
蓝菲光学（Labsphere）成像传感器量子效率测量系统
蓝菲光学（Labsphere）成像传感器量子效率测量系统结构图
特点：
超高的光照强度和超大的动态范围，能够满足各种传感器的量子效率测试需求
输出稳定、光谱辐射度均匀的面光源，确保传感器测试结果的一致性。
光谱辐照度和辐亮度能够实时溯源至美国国家标准与技术研究院（NIST）
提供软件开发包，能够满足客户各种自定义测试流程开发需要
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