快速加热样品筛网实现TA-DART质谱分析

2011/08/30   下载量: 12

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在实现样品的 DART 实时快速分析过程中,样品蒸发和化合物解吸是最为关键的步骤。一种方式是通过加热电离载气产生的激发态物质(如激发态氦原子),解吸表面化合物并同时发生气相离子分子反应;另一种方式是通过快速加热样品容器如筛网,瞬间雾化容器表面的样品并同时发生气相 DART 离子分子反应。本文报道了后一种方式,又称热辅助-DART(简称 TA-DART),即通过将样品(液体或固体粉末等)置于金属筛网中央,筛网两端施加高电流以快速加热,使筛网在不到 10 s 内从室温快速升至400℃,从而将样品瞬间蒸发为气体并发生 DART 离子化。在此过程中,DART 载气处于常温状态。 采用此种方式,筛网和样品的位置可以更加靠近大气压质谱入口,有效地减少了质谱分析时间。通过调节电流大小,还可以改变样品气化温度;既可以在较高温度下分析某个单一组分,以节省分析时间;也可以在分析复杂混合物时,采用较低温度,利用组分间的不同脱附速度进行差异分析。试验中比较了样品自玻璃或金属筛网等不同材料表面脱附化合物所需要的温度差别。利用该装置,作者实现了各种液体样品和固体样品尤其是粉末状样品中化合物的快速、直接测定。

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