方案摘要
方案下载| 应用领域 | 地矿 |
| 检测样本 | |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | 00 |
用具有高分辨率，高通量的硅漂移探测器装备体系上的EX - 6600 能量色散型X衍射荧光光谱仪对两个金矿样品进行了定性分析。 评估EX-6600SDD在金矿样本中的性能，并确定金在这些样品中的最低检出限。 能量色散型x衍射荧光分析技术具有快速、非破坏的特点。通过选择合适的分析方法可以在几分钟之内分析任何一种类型的样品，包括：固体、粉末或液体样品等。能量色散X射线荧光光谱仪在检测中保证样品的稳定性起着重要的作用。 EDXRF是工业生产控制上快速而简单的元素分析方法，它的优点有：1）快速简单的样品制备；2)自动化的分析过程；3）不需要使用其他分析技术中的腐蚀性试剂；4）非技术或非专业人才也可以轻松使用。与传统探测器相比，高分辨率的硅漂移探测器可以一次性的给出所有元素的最低检测量。
文献贡献者
用基本参数法对芯片进行定量分析
RoHS分析仪检测有害物质
丁腈手套中的氟（聚四氟乙烯）的EDXRF分析报告
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