X-荧光光谱仪工作原理

  X-荧光光谱仪有两种类型:一种是波长色散型(WDX),一种是能量色散型(EDX),我公司(INNOV-X中国服务中心)使用的是波长色散型(XRF分析仪),在WDX中,荧光光谱通过色散元件(如晶体)被分离成不连续的波段,然后用气体正比计数器或闪烁计数器检测,其主要组成是X光管、初级准直器、晶体、次级准直器和探测器,及辅助装置如初级滤光片等。

  SDD探测器X荧光仪共有2个探测器,即流气正比计数器和闪烁计数器,装在探测器架上,可程控切换.扫描式X射线荧光仪安装的是具有很大测定灵活性的测角仪,只要配备了必要的分析晶体就能按序分析周期表上多达83个元素。

  此外,测角仪还可以使用半定量分析元件如QuantAS,这些软件能快速分析未知样品,而不需要使用标准参考物质做仪器校准。而我公司ARL9800XP荧光光谱仪装有一个测角仪(扫描道)和一个衍射道,如果需要还可以再装14个固定道,它配有12位样品交换器,可以设定自动进样。http://www.instrument.com.cn/netshow/C216973.htm

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