钴酸锂（LiCoO2）晶体结构的X射线衍射（XRD）分析

2011/10/21   下载量： 94 次

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应用领域 电子/电气
检测样本 电子/电气
检测项目
参考标准 暂无

使用X射线衍射仪XRD-BTX，可对制得的钴酸锂进行杂质相分析，同时，能够精确鉴定钴酸锂晶体的层状结构、晶体结构的有序度、结晶度以及晶粒大小，为判别材料的整体质量提供依据，同时也为调整晶化条件等工艺参数提供有力的指导。

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深圳市莱雷科技发展有限公司
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