方案摘要
方案下载应用领域 | 钢铁/金属 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | 含量分析>铁元素, 硅元素 |
参考标准 | / |
硅铁按照冶炼方式分为高硅硅铁(GG)、普通硅铁(PG)、低铝硅铁(DL)和高纯硅铁(GC)四类。根据国标文件GB/T 2272-2009,硅铁分为21个牌号,其中75#硅是最常用的材料。
硅铁杂质主要有磷、铝、钙等。P偏高导致金属变脆,且硅铁中P与Ca形成磷化钙,在潮湿的储存和运输环境中,会分解出磷化氢有毒气体;CaO-Al2O3类夹杂物会影响轴承钢等脱铝氧钢的疲劳寿命。因此在硅铁的质量管控中会关注这些杂质元素。
X射线荧光光谱法(XRF) 作为一种快速无损的元素含量检测手段,能够很好的帮助用户快速测试硅铁中各元素含量,区分牌号,被广泛应用于硅铁合金分析中。
XRF在铝土矿中的主成分测定中的应用
FRINGE CLASS在电池材料质量管控中的应用
XRF在石灰石和白云石成分分析中的应用
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