型号: | XDLM-PCB |
产地: | 德国 |
品牌: | |
评分: |
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菲希尔金镍厚度分析仪、金镍厚度测量仪、金镍分析仪
——X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
菲希尔金镍测厚仪用途:
XDLM-PCB 200型:首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。
设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF),用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析
菲希尔金镍测厚仪技术参数:
元素范围:从元素氯(17)到铀(92),最多可同时测定24种元素。
形式设计:台式仪器,测量门底部开槽设计。
测量方向:由上往下
X射线管:带铍窗口的微聚焦钨管
高压:三档:30KV,40KV,50KV
孔径(准直器):0.2mm
基本滤片:固定
测量点尺寸:取决于测量距离和使用的孔径大小;
视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸;
最小测量点约为:0.16mm
测量距离:0-10mm (0-0.4in),使用受专利保护的DCM测量距离补偿法
X射线探测器:比例接收器
菲希尔金镍测厚仪应用领域:
钟表,首饰,眼镜
汽车及紧固件
卫浴五金
连接器
化学药水
通信
半导体封装测试
电子元器件
PCB
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