无损检测用X射线平板探测器

无损检测用X射线平板探测器

参考价:面议
型号: C7942CA-22
产地: 日本
品牌: 滨松
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产品详情

无损检测用X射线平板探测器


    C7942CA-22是一款紧凑、重量轻的数字X射线成像传感器,用于作为无损检测、生物化学成像和X射线显微镜的关键器件,可以实时获取高分辨率、高清晰度的数字X射线图像。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站  查看该产品更多详细信息!
特性
- 2400 × 2400 pixels
- 12位数字输出
- 高速成像:2 frames/s(单次工作)
- 9 frames/s (4 × 4 binning)
- 低噪声,宽动态范围

详细参数

  感光面积  120 x 120 mm
  像素尺寸  50 x 50 μm
  总像素个数  2400 x 2400 pixels
  闪烁体类型  CsI闪烁体板
  视频输出接口  RS-422
  帧速率(典型值)  2 frames/s
  动态范围(典型值)  2000
  X-ray分辨率(典型值)  8 line pairs/mm
  测试条件  典型值,Ta=25 ℃

外形图(单位:mm)


滨松光子学商贸(中国)有限公司为您提供滨松无损检测用X射线平板探测器C7942CA-22,滨松C7942CA-22产地为日本,属于工业CT,除了无损检测用X射线平板探测器的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多工业CT,滨松中国客服电话400-803-3696,售前、售后均可联系。

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