滨松C11627-01 纳米膜厚测量仪系列_价格-滨松光子学商贸（中国）有限公司

产品详情

C11627-01 纳米膜厚测量仪系列

C11627-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。因其将光源、分光光度计和数据分析单元集成为一个单元，所以其配置紧凑，仅由一个主单元和光纤组成。此仪器设计紧凑，节省空间，适合安装进用户的系统中，可进行多种目标的测量。此外，该仪器为无参照物测量，因此省略了烦人的参照物测量，可长时间稳定地进行高速、高准确度测量。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站查看该产品更多详细信息！

特性

无参照物工作
尺寸紧凑，节省空间
高速、高准确度
不整平薄膜精确测量
分析光学常数（n,k）
可外部控制

参数

型号	C11627-01
可测膜厚范围（玻璃）	20 nm to 50 μm^*1
测量可重复性（玻璃）	0.02 nm^{2 3}
测量准确度（玻璃）	±0.4 %^{3 4}
光源	LED
测量波长	420 nm to 720 nm
光斑尺寸	Approx. φ1 mm^*3
工作距离	10 mm^*3
可测层数	最多10层
分析	FFT 分析，拟合分析，光学常数分析
测量时间	19 ms/点^*5
光纤接口形状	FC
外部控制功能	RS-232C,Ethernet
电源	AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz
功耗	70W

*1：以 SiO2折射率1.5来转换

*2：测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差

*3：取决于所使用的光学系统或物镜的放大率

*4：可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中

*5：连续数据采集时间不包括分析时间

滨松光子学商贸（中国）有限公司为您提供滨松C11627-01 纳米膜厚测量仪系列，滨松C11627-01产地为日本，属于其它测量/计量仪器，除了C11627-01 纳米膜厚测量仪系列的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它测量/计量仪器,滨松中国客服电话400-803-3696，售前、售后均可联系。

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Business information

工商信息

信息已认证

企业名称: 滨松光子学商贸（中国）有限公司
企业类型:
信用代码: 110000450180837
成立日期: 2011年08月01日
注册资本: 0
经营范围: 批发、零售II类医疗器械、计算机、软硬件及辅助设备;光电子相关产品、半导体相关产品、光技术应用装置、X线技术应用装置、生物制品(未经专项审批的项目除外)以及上述产品相关部件、软件、配件的批发、佣金代理(拍卖除外)、货物进出口(涉及配额许可证管理、专项规定管理的商品按照国家有关规定办理);售后服务;技术咨询;软件开发;技术开发、技术转让、技术服务;租赁仪器仪表;批发、零售第III类医疗器械。(批发、零售第III类医疗器械以及依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动。)

型号：	C11627-01
产地：	日本
品牌：	滨松
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