海洋光学NanoCalc薄膜反射测量系统_价格-杭州谱镭光电技术有限公司

产品详情

薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µm的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。

产品特点

1、可分析单层或多层薄膜
2、分辨率达0.1nm
3、适合于在线监测

操作理论

最常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和透射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。

查找n和k值

可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc软件包含了大多数材料的n和k值数据库，用户也可以自己添加和编辑。

应用

NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。

杭州谱镭光电技术有限公司为您提供海洋光学NanoCalc薄膜反射测量系统，海洋光学NanoCalc产地为美国，属于其它测厚仪，除了NanoCalc薄膜反射测量系统的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供MAYA2000PRO微型光纤光谱仪、FT-NIR Rocket近红外傅里叶变换光谱仪、SPL785nm 便携式拉曼光谱检测系统,杭州谱镭光电客服电话400-860-5168转2255，售前、售后均可联系。

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Business information

工商信息

信息已认证

企业名称: 杭州谱镭光电技术有限公司
企业类型: 有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码: 91330106552697280T
成立日期: 2010年04月29日
注册资本: 壹佰万元整
经营范围: 服务:光电产品、科学仪器的技术开发、技术服务、成果转让;批发、零售:光电科学仪器,光电元器件,仪器仪表,计算机配件,五金交电;货物进出口(国家法律、行政法规禁止的项(目除外,法律、行政法规限制的项目取得许可证后方可经营);其他无需报经审批的一切合法项目。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)

型号：	NanoCalc
产地：	美国
品牌：	海洋光学
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