适配用于日立F-2700,F-4500,F-4600和F-7000, 用于微量粉末和薄膜材料测试;粉末可以回收。提高少量样品测试的准确性和数据重现性。 可以避免少了粉末样品测量时候可能导致的样品仓污染。特别适合于纳米材料和发光粉体的测量。 粉末用量约10ul。
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