SZ-100 纳米粒度分析仪

2013-06-10 12:45 下载量：16

资料摘要

资料下载

SZ-100可以方便的分析纳米材料的诸多性质如粒径、Zeta电位、分子量等，进而可以研究纳米材料的分散性、稳定性等；基于HORIBA公司独特的光学设计，SZ-100最好的测量性能和最宽的测量范围（0.3nm-8 μm）不仅仅能满足实验室需求同时还能应用于工厂生产的高质量控制。主要特点： 1、最宽测量范围：0.3 nm to 8,000 nm (8 μm) max 宽测量范围，从亚纳米大小（分子尺寸大小）到微米尺寸可用SZ-100一台分析仪即可 2、最少样品量：测量Zeta电位仅需100μL，测量粒径大小仅需12μL 非常适用于珍贵样品如生物材料和纳米材料样品 3、分析少量的稀溶液有最高的灵敏度。装备高强度激光光源及独特的Horiba光学系统设计，因而光噪音更低，灵敏度跟高 4、一台仪器即具备测量粒径、Zeta电位、分子量三种纳米颗粒研究最重要参数功能主要应用：陶瓷纳米颗粒、金属纳米颗粒、碳黑、制药、病毒研究、涂料、聚合物、食品、化学机械抛光、染料、胶体、蛋白质等

资料下载

文献贡献者

天津东方科捷科技有限公司

银牌会员 | 第12年

查看全部资料