矢量图快速读出荧光寿命及内涵

2016-08-03 14:55  下载量:2

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介绍采用矢量图方法,解析采用频域荧光寿命测试技术,涉及寿命数值的拟合及意义。 对比TCSPC,我们获得的是直接的衰减曲线,通过对衰减曲线的直观观察,在对数纵坐标情况下,直线或弧线,倾斜的差异,我们可以读出寿命的个数或者是寿命平均值的差异。但是对于频域技术测试荧光寿命,我们获得是相差以及模的变化,无法直接给出寿命的判断,但是我们利用创造性的矢量图,可以快速直接得到寿命的细节信息,包括指数个数、寿命的数值大小。为进一步利用频域技术的快速测试打下基础,也是测试技术突破性进步。

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