X射线测厚仪

    X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型x射线光谱仪。它们是从已广受认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型系列仪器上发展而来的。与上一代相类似，它们尤其适合无损测量薄镀层厚度及材料分析，同时还能测量大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层厚度，进行镀液成分分析等。

    比例接收器能产生高计数率，从而使得高精度测量成为可能。由于使用了Fischer基本参数法，无论是固体的镀层系统还是液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。最多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24种元素。

    XDL型X射线光谱仪有着出色的长期稳定性，如此一来，就能大幅减少校准仪器所需花费的精力。XDL系列仪器特别适用于质量控制、来料检验以及生产线监控中的测量需要。

       典型的应用领域有：

• 测量大规模生产电镀零部件
• 薄镀层检验，如装饰性铬镀层
• 分析电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 全自动测量，如印刷线路板中各个测量点的连续自动测量
• 电镀工业中的电镀液成分分析

   有全系列的X-射线供应。