优化平面型GEM-S探测器

优化平面型GEM-S探测器

参考价:面议
型号: GEM-S
产地: 美国
品牌: ORTEC
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核心参数
阿美特克中国(AMETEK)
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产品详情
  •  性能指标上综合了传统GEMGMX探测器的优势;能量下限降至3keV;分辨率优异;中低能段效率显著提升

  • 采用超薄可靠接触极;在常温下保存不会损害探测器性能

  • 严格保证效率、分辨率、峰形与峰康比等完整指标

  • 以晶体尺寸定义其型号,同一型号的探测器采用相同的晶体结构和尺寸,从而保证了相当一致的效率曲线

  

优化平面型 GEM-S    

型号

晶体尺寸(mm)

能量分辨率-FWHM(keV)

峰形()

峰康比(≥)

效率(≥)

端窗直径

(mm)

直径

厚度

@5.9keV

@122keV

@1.33MeV

FW.1M/FWHM

FW.02M/FWHM

GEM-S5020

50

20

0.35

0.65

1.8

1.9

2.6

28

10%

70

GEM-S5825

58

25

0.40

0.68

1.8

1.9

2.7

35

15%

70

GEM-S7025

70

25

0.45

0.70

1.9

2.0

2.8

40

20%

83

GEM-S7030

70

30

0.50

0.72

1.9

2.0

2.8

46

34%

83

GEM-S8530

85

30

0.50

0.72

1.9

2.0

2.9

55

50%

95

GEM-S9030

90

30

0.50

0.75

2.1

2.0

3.0

62

60%

108

GEM-S9430

94

30

0.56

0.78

2.1

2.0

3.0

65

65%

108

 

阿美特克中国(AMETEK)为您提供ORTEC优化平面型GEM-S探测器,ORTECGEM-S产地为美国,属于辐射仪、射线检测仪,除了优化平面型GEM-S探测器的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多辐射仪、射线检测仪,阿美特克客服电话400-803-2502,售前、售后均可联系。

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