型号: | Elite T |
产地: | 美国 |
品牌: | EDAX |
评分: |
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Elite T是用于透射电子显微镜(TEM)的全新一代能谱仪,其快速硅漂移探头使用最先进的集成电子器件。采用独特的几何设计和强大的定量算法,为所有透射电镜的应用提供优化的分析解决方案。
立体角增大以优化结果
Elite T能谱采用了独特的几何设计以达到最佳采集效果。采用双探头设计时,立体角高于2sr,极大的提高了计数率,有利于快速采集数据,尤其是对于采集敏感样品。
无窗设计
Elite T采用可选无窗设计。该设计:
提升了探头的轻元素敏感性
提高了低剂量样品的面分布采样速度和轻元素检测性能
可使传感器位置设置更加灵活,以获得最大信号曝光量
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