泰勒·霍普森邀您共赴CIOE光学盛宴
第二十二届中国国际光电博览会将于2020年9月9-11日在深圳国际会展中心宝安新馆举办, 值此光学盛会, 泰勒·霍普森公司携光学元件检测领域的新技术和新产品参展, 为您带来多样化、全系列的接触式和非接触式测量解决方案。敬请光临我们的展台。
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在展会期间, 泰勒·霍普森将参加第七届全球光学智能制造(深圳)高端论坛, 并在“光学纳米制造及检测技术的新挑战”专题会议中进行演讲。敬请关注:
时间:2020 年 9 月 10 日 下午 16:00
地点:深圳国际会展中心会议厅·媒体中心 AC
演讲人:杨援 博士(高级应用专家)
主题:三维非接触新技术在光学自由曲面和手机镜片多参数测量中的应用
CIOE期间, 我们还将在展台上举办三场新技术新产品交流发布会,
请光临泰勒·霍普森公司展台
7 号馆 7C52
9月9日14:30
三维非接触式测量新技术在手机镜片和镜筒测量中的应用
9月10日10:00
三维非接触式测量新技术在手机镜片和镜筒测量中的应用
9月11日10:00
三维接触式和非接触式测量新技术在自由曲面测量中的应用
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