| 型号： | MF probe |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | MaxMile Technologies |
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MaxMile的无汞探测器可广泛用于各种有电子特性的半导体样品。通过在材料中即时形成肖特基或mos器件来实现探测功能，不需要耗时的金属化工艺。相比传统的汞探测器，无汞探测器没有汞累积中毒问题，并可实现更复杂的测量。
无汞探测器具有快速、经济、无损于材料等特性。它们是研发和生产的理想工具，如过程监控，质量控制和快速反馈。
接触方式：单接触、双接触、混合接触；
接触面积:0.8-2 mm,可定制；
探头控制：手动、自动和映射；
工作台直径：2"(50mm)-12"(300mm)。
接口：接口线长度可任意定制。
单接触无汞电探针通过与材料基体接触进行测量，而双接触探针测量则通过接触带有半绝缘体或绝缘体基底的半导体一侧的两个点进行测量。混合接触测量包括单接触测量和双接触测量。
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