| 型号： | SMI |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | Optikos |
| 评分： |
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Optikos+SMI表面形貌测量仪+隐形眼镜测量仪
隐形眼镜测量仪
SMI表面测量仪器
重新诠释无接触测试的速度和精度
SMI表面测量仪器
Optikos公司的SMI重新诠释无接触测试的速度和精度。SMI是一台快速测试球面、环面和非球面的表面形貌测量仪器。SMI以波阵面分析技术为测量面形偏差的手段，并且可以容易地测试非球面、环面，而不需要基准面。SMI可以配置测试:
- 微光学元件
- 球透镜
- 隐形眼镜模具
从光学元件到金属模具，可以测试:
- 曲率半径
- 圆环的半径和轴
- 锥形常数
- 表面误差
系统测量结果会用全表面图表来显示在微米量级的形状误差。SMI将从待测元件表面反射的波阵面与理论上完美球面的反射进行对比，然后表面偏移用Zernike多项式来表示。在几秒钟之内，SMI能够测试0.1微米范围内的形状误差、以及3微米范围内的半径误差。
系统标配
- SMI光学仪器
- 电脑系统
- SMI软件包
SIM仪器的众多优势之一就是它的易用性。用户只需要将被测部件放置在SIM的平台上，然后按下按钮，SIM仪器就完成剩下的所有测试工作。系统会显示被测表面的二维或三维图表，其中包含曲率半径和锥形常数的数值结果。SIM软件包还包括了OLE编程界面，这让SIM仪器与生产线的数据库直接交流，并且可以跟质量监管系统无缝衔接。整个SIM仪器也非常紧凑便携，所需空间只比个人电脑稍大一点。
Optikos也可以定制的部件，扩大仪器的测量范围。
SIM特征：
- 无接触
- 一键操作
- 锥形常数与形状因子
- 精确度在微米范围内的表面测量
- 环面、非球面的测量
- 10秒钟以下的测试周期
- Zernike多项式
- 设计小而紧凑
- 标配0.28和0.42NA（数值孔径）物镜
产品规格：
| 测试区直径： | 可测量 - R*2*NA R=待测部件的半径，NA=物镜的数值孔径 |
| 测量范围： | 曲率半径: 凸透镜2-20毫米 曲率半径: 凸透镜2-45毫米 |
| 准确性： | 曲率半径：＜0.003毫米 表面图表的峰谷：＜0.0001毫米 |
| 重复性（1σ） | 曲率半径：＜0.0007毫米（1σ） |
| 尺寸： | 长度：28厘米 宽度：23厘米 高度：38厘米 |
软件
系统的软件包是整个SIM仪器的核心。SIM软件可以在Window 7 系统下运行。OLE界面提供SIM函数库，用户可以使用多种OLE客户应用程序，譬如Microsoft Word、Excel或者使用像Microsoft Visual Basic等工具来生成的程序，来调用SIM函数。SIM仪器生成的数据是不同应用程序之间可共享的，因此SIM不但是一台功能强大的测量仪器，而且是任何一个质量监控体系中重要的一个环节。全表面测绘可以快速测试环面和非球面，并且也不需要基准面。被测表面的测试结果会直接显示成二维或三维图表，其中包含曲率半径和锥形常数的数值结果。
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