宽能(优化)高纯锗谱仪

宽能(优化)高纯锗谱仪

参考价:面议
型号: GEM-MX
产地: 美国
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产品详情
 
       GEM Profile系列应用优化HPGe探测器                                        
  • P型同轴,专门针对特定的样品类型,几何尺寸,能量范围而设计;
  • 同时保证探测器晶体几何尺寸与性能指标;
  • 照IEEE标准,在实际测量时有着最高的绝对效率;
  • 探测器回温时高压自动切断功能;
  • 多数情况下有库存,并提供实际指标。
  • Profile-M系列:专门设计用于马林杯样品的测量,探测器端头直径与晶体有效厚度一致,保证最高的绝对效率;
  • Profile-F系列:采用扁平结构晶体(直径>长度),适于点状、滤纸、瓶、盘等各种样品放在探测器端头上的测量,优异的分辨率,还可作为人体肺部测量和废物桶测量的理想选择;
  • Profile-FX系列:有着Profile-F系列类似的结构与性能特征,但采用超薄的接触极和碳纤维端窗,能量响应下限降低至10keV;
  • GEM-MX系列:结合-M与-FX工艺,能量响应范围10keV-10MeV,尤其适合于马林杯状样品,提供38%、66%、115%、175%四种效率尺寸选择。


 

蔡司工业测量为您提供宽能(优化)高纯锗谱仪GEM-MX,nullGEM-MX产地为美国,属于辐射仪、射线检测仪,除了宽能(优化)高纯锗谱仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多辐射仪、射线检测仪,蔡司工业测量客服电话,售前、售后均可联系。

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