| 型号： | 710SWIR |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | SOC |
| 评分： |
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成像系统
SOC710SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器，光谱范围为900nm～1700nm。
SOC710SW具有高光谱分辨率 (5 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W)，使得SOC710SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里，获得的是最高质量数据。
使用简单和实时处理
SOC710SW是一个完整的系统，开箱之后即可使用。
系统采用SOC的HyperSpect™ 操作软件和HSAnalysis™校准和分析工具进行标定和使用前设置。
数据以开放的BIL二进制格式保存，可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。
可选的SOC MIDIS™处理器以最优的电脑速度快速执行光谱处理，克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。
MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分，使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。
配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统，SOC-710SW通过高速USB接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、5nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W（1550nm）。
SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据，可以很容易的用第三方分析软件打开，如ENVI软件。无须数据格式转换。
技术参数：
| 光谱范围： | 900-1700 nm |
| 光谱分辨率： | 5 nm |
| 光谱通道： | 128 |
| 光谱失真： | <1.5 microns (smile) |
| 数字光圈： | F/2.4 |
| TFOV/IFOV (35MM)： | 10°/0.015625° |
| 分辨率(像素)： | 640x640 (nominal) |
| LINE RATE： | 30 Spatial Lines/Second |
| CUBE RATE： | 20 Seconds/Cube |
| 数字分辨率： | 14-bit |
| 三脚架： | 3/8”-16 |
| 计算机接口： | USB2.0 |
| 扫描： | 内置 |
| 供电： | AC/12DV |
| 重量： | 10 lbs. |
| 尺寸： | 5”x8”x11” |
应用领域：
| 机械视觉 电子学和塑胶 晶片检查 农业品质 化学过程控制 农业领域 精准农业 土地分类 水份胁迫 作物健康 | 温度记录 火点监测 玻璃检测 金属纯度 军事 ISR 边境安全 导弹跟踪 医学领域 血糖分析 X线断层摄影术 |
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