| 型号： | SOC710SW |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | SOC |
| 评分： |
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SOC710 SWIR 短波红外高光谱成像仪是原型号SOC720的升级版，更轻便、快捷、精确；是一款高质量、高性能的科研级高光谱成像仪，光谱范围900~1700nm。具有卓越的高光谱分辨率 (2.75nm)， 成像分光计和高灵敏度的制冷型InGaAs 阵列检测器，使得SOC710 SWIR能够以16bit的数字分辨率同时收集640*568像素、288个波段的高光谱信息。其卓越的性能及成像质量，在同类产品中无出其右。
SOC公司具有40余年高光谱成像研发经验，具有多项高光谱成像领域专利。SOC还与美国NASA及国防部长期合作，并参与了多款太空望远镜的光学模块研发工作。
SOC710 SWIR为一体式设计，集成度高，开箱之后即可使用；具备内置平移推扫装置，不需另配扫描台，即可任意方向或直接垂直向下扫描；扫描速度与积分时间自动匹配。独特的内置扫描和双CCD设计，可以直接预览待测区域图像，内置平移式平移推扫设计成功地解决了外置扫描方式无法避免的图像畸变问题。真正的所见即所得！自动暗电流，自动匹配积分时间，预览图像自动提示曝光饱和，自动存储；可按预设的测量间隔长期无人值守全自动监测。系统采用SOC的HyperScanner 操作软件和SRAnal710™校准和分析工具进行标定和数据处理。SOC处理器以最优的测量速度快速获取光谱数据，数据以开放的BIL二进制格式保存，可以兼容ENVI等第三方数据分析软件，适应多种研究应用。严格NIST可溯源校准，数据准确可靠。
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技术参数：
SOC710 SWIR 短波红外高光谱成像仪 | |
光谱范围 | 900~1700 nm |
光谱分辨率 | 2.75 nm |
光谱波段数 | 288 |
数字光圈 | F/2.0 |
镜头焦距 | 8mm、12.5mm、16mm、25mm、35mm和50mm可选 |
扫描速度 | 60~120行/秒 |
测量速度 | ~10秒/Cube |
数字分辨率 | 14 bit |
像素 | 640x568 |
扫描方式 | 内置平移推扫 |
数据接口 | USB |
供电 | DC12V / AC220V |
产地：美国
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