| 型号： | 410 Vis-IR |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | SOC |
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410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。
两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。
功能特点
在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率
半球热辐射的预测
测量太阳能吸收/反射
在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量
可测量光谱范围：从可见到中远红外
NIST可溯源标准
快速和便携式使用
PDA触摸屏操作，内置SD卡
应用领域
航空工业
天文望远镜检查
涂层领域
太阳能领域优化太阳能利用性能
节能建筑
光学材料质量控制
技术参数
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410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪 |
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符合标准 |
ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408 |
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测量参数 |
定向半球反射比(DHR) |
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测量方法 |
波段范围内积分总反射比 |
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输出参数 |
总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射 |
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波段区间 |
335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm IR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm |
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入射角 |
20°&60°法线入射 |
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样品表面 |
任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 |
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测量时间 |
10秒/次；90秒预热 |
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光源 |
VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金 |
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测量探头 |
模块化设计，测量头可更换 |
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操作界面 |
触摸式液晶屏软件界面 |
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工作环境 |
储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 |
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供电 |
两块可充电镍氢电池 |
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重量 |
2.1Kg，含电池 |
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