安洲科技应邀参加果树信息化精准管理技术国际论坛

北京安洲科技有限公司

2013/10/28 14:05
TA的动态
　　果树信息化精准管理技术国际论坛于2013年10月21-23日在重庆举行。本次论坛主要开展果树信息技术、精准管理技术和果树智能装备研发应用等的国际和国内学术交流，并就我国果树信息技术发展战略和重点学科方向等进行研讨。


 
　　北京安洲科技有限公司应邀参加了此次国际论坛。论坛期间，安洲科技技术人员向与会老师介绍了我公司的SOC710VP便携式可见-近红外成像光谱仪。


 
　　SOC710VP便携式可见-近红外成像光谱仪可以实时获得400-1000nm波长范围内的高质量光谱数据，并具有12-bit动态范围的CCD和精确的标定。SOC710VP采用全新的内置扫描设计，不需要沉重耗电的扫描云台，重量仅3公斤，可以安装在三脚架上进行测量，从而满足通量塔--地面—实验室--显微镜等不同尺度的测量应用。
 
阅读506次
关注
上一篇 成像光谱仪在大米砷污染领域的应用
下一篇 美国SOC公司首席科学家到访北京安洲并举办学术研讨会
最新动态
更多

相关产品

当前位置： 北京安洲 动态 安洲科技应邀参加果树信息化精准管理技术国际论坛

关注

拨打电话

留言咨询