飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件
飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件
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飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件

报价：面议
型号： X-view Insert
产地： 荷兰
品牌： Phenom
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复纳科学仪器（上海）有限公司
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核心参数
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飞纳台式扫描电镜 Phenom  X 断面观测插件


断面插件一般与金相样品杯结合使用。样品横截面成像的制备是 一个耗时的过程。样品通常嵌入抛光。使用断面插件，样品很容 易在支架中使用夹具固定。无需工具就可以快速、轻松地调整样 品位置。使用断面插件观察样品，可以保存样品的最初状态，可 以在生产过程中重复使用或在进一步的实验室研究中使用。 观察涂层、多层半导体和断裂表面时需要断面制样。一般来说， 这类样品都需要借助树脂固定制作成镶嵌样，耗费大量时间和精 力。 有了断面插件，就再也不需要螺丝钉和特殊工具来固定样品了。

  • 容易固定，不需要螺丝和其他的工具


飞纳-小仓-断面观测插件.jpg


主要参数：

•样品大小： 15mm x 25mm（W x L）最厚为10 mm 

• 不需要工具

• 样品定位简单 

• 保持样品原始形貌

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