型号: | PANalytical Epsilon 3XLE |
产地: | 荷兰 |
品牌: | 马尔文帕纳科 |
评分: |
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台式 XRF 超轻元素版 E3XLE
Epsilon 3XLE 是一种台式能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪,用于在从研发到流程控制的领域中进行元素分析。它易于操作、可靠且高度灵活,是多种行业和应用的理想选择。激发和探测技术的最新进步为该仪器提供了技术支持,从而帮助它提供了卓越的分析性能。
超越您的期望
√确保 X 射线安全
√通过智能激发和探测技术实现的高灵敏度
√卓越的分析性能 (C – Am)
√Omnian(半定量分析)、FingerPrinting 和监管合规性模块
最新发展
Epsilon 3 XLE 仪器将最新的激发和探测技术与顶尖的分析软件结合到了一起。15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、最新的硅漂移探测器以及紧凑的光路设计相结合,提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。
合规就绪性
Epsilon 3 XLE 符合 ASTM、ISO 和 DIN 等国际标准的要求并受到帕纳科全球销售和服务专家网络的支持。对于多种行业和应用(包括 RoHS 和 WEEE)来说,它是可取代分析方法的、经济且可行的备选方案。
Epsilon 3XLE
Epsilon 3XLE 一种能量色散 X 射线荧光光谱仪,可对从 C 到 Am 的元素(浓度从 ppm 到 100%)进行分析。将 Omnian 用于半定量分析,当需要快速分析鉴定时,则使用 FingerPrint 来进行材料测试,或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。用户还可使用Enhanced Data Security以满足 FDA 21 CFR Part 11 等法规要求。
Epsilon 3XLE
Epsilon 3XLE 台式 X 射线荧光光谱仪可以处理类型广泛的样品,可进行从 C 到 Am 的元素分析。可以测量的样品类型包括:固体,压缩粉末,疏松粉末,液体,熔片,浆类样品,颗粒,滤光片,薄膜和镀层。在完全安全的条件下测量未经制备的样品、体积较大或形状不规则的样品,避免高能 X 射线工作在开放状态。具有非破坏性的定量分析功能,广泛的分析含量范围(ppm-%),重量从几毫克到更大的块状样品不等。这使得 Epsilon 3X 台式 X 射线荧光光谱仪成为一款经济实惠,高度灵活的分析工具,适用于各种应用场合。Epsilon 3X 可应用于各种各样的行业,包括:水泥生产,采矿,选矿,炼铁,炼钢和有色金属,石油石化,聚合物及相关行业,玻璃生产,取证,医药,保健品,环保,食品和化妆品等。
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