扫描电镜在半导体失效分析中的应用案例分享

2022-03-09 14:40  下载量:5

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失效分析对于纠正设计和研发错误、完善产品、提高产品良品率和可靠性有重要意义,飞纳电镜可以提供简单、高效、精确的电子半导体材料检测方案,对于失效模式的确定有极大的帮助。

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