扫描电镜分析导致样品破坏的原因及缓解办法

2018-08-02 17:25  下载量:9

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当使用扫描电镜(SEM)观察样品时,随着时间增加,电子束可以改变或破坏样品。样品破坏是一种不利的影响,因为它可能会改变或甚至毁坏想要观察的细节,从而改变电镜检测结果和结论。在这篇博客中,将解释导致样品破坏的原因,以及如何缓解这一过程。

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