| 型号： | 1 |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | |
| 评分： |
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μ-Kerr Effect Measurement and Magnetic Domain Observation System 克尔效应测量和磁畴观测系统 | |
优势 | |
1．微观测量克尔效应和磁畴观测 2.适合敏感分析μm大小磁模式和磁性薄膜
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规格 | |
测量的方向 | Magneto-Optical Kerr Effect (Polar and Longitudinal Kerr Effect) |
主要功能 | Kerr Loop Measurement and Magnetic Domain Observation |
光源 | Diode Laser and Mercury Lamp |
探测光斑 | φ2-5μm |
观察分辨率 | 1μm (Typ.) with x50 objective lens |
磁场 | Max. ±10kOe (1T) |
可选 | Cryostat and others |
Polar Kerr Effect Measurement System 极向磁光克尔效应系统 | |
规格 | |
测量的方向 | Magneto-Optical Kerr Effect (Polar Kerr Effect) |
主要功能 | Kerr Loop Measurement |
光源 | Diode Laser |
探测光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁场 | Max. ±20kOe (2T) |
Longitudinal Kerr Effect Measurement System 纵向磁光克尔效应设备 | |
规格 | |
测量的方向 | Magneto-Optical Kerr Effect (Longitudinal Kerr Effect) |
主要功能 | Kerr Loop Measurement |
光源 | Diode Laser |
探测光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁场 | Max. ±100 Oe (0.01T) |
Faraday Effect Measurement System 法拉第磁光克尔效应设备 | |
规格 | |
测量的方向 | Faraday Effect |
主要功能 | Faraday Measurement |
光源 | Diode Laser |
探测光斑 | φ2mm (Typ.) |
法拉第角范围: | 45 degree |
磁场 | Max. ±10kOe (1T) |
Perpendicular Magnetic Anisotropy Analysis 垂直磁各向异性分析 | |
优势 | |
1.磁光克尔效应与机动旋转电磁铁磁场应用于角度依赖性分析 | |
规格 | |
测量的方向 | Magneto-Optical Kerr Effect |
主要功能 | Kerr Loop Measurement |
光源 | Diode Laser |
探测光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁场 | Max. ±25kOe (2.5T) |
磁场旋转范围 | -10-100 degree |
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