工业型磁光克尔效应设备

工业型磁光克尔效应设备

参考价：面议
型号： 2
产地： 日本
品牌：
评分：
上海沃埃得贸易有限公司
金牌会员 丨 13年
关注展位 全部仪器
展位推荐 更多
产品详情

“For Wafer” Perpendicular Magnetic Layer Evaluation System

“晶片”垂直磁层评估系统

优势

测量垂直磁层12英寸的晶圆

 

规格

主要功能

Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement
(Polar Kerr Effect)

光源

Diode Laser

探测光斑

φ1mm (Typ.)

磁场

Max. ± 25Oe (2.5T)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

“For Wafer” In-Plane Magnetic Layer Evaluation System

“晶片”平面磁层评估系统

优势

测量平面磁层12英寸的晶圆

 

规格

主要功能

Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement
(Longitudinal Kerr Effect)

光源

Diode Laser

探测光斑

φ1mm (Typ.)

磁场

Max. ± 2kOe (0.2T)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

“For Hard Disc” Perpendicular Magnetic Recording Layer
Evaluation System

“硬盘”垂直磁记录层评估系统

优势

测量垂直磁性介质的2.5英寸和3.5英寸的硬盘

规格

主要功能

Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement
(Polar Kerr Effect)

光源

Diode Laser

探测光斑

φ1mm (Typ.)

磁场

Max. ± 25kOe (2.5T)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

“For Hard Disc” Soft Under Layer (SUL) Evaluation System

“硬盘”下软层评估系统

优势

测量软层下的2.5英寸和3.5英寸的硬盘

规格

主要功能

Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement
(Longitudinal Kerr Effect)

光源

Diode Laser

探测光斑

φ1mm (Typ.)

磁场

Max. ± 3kOe (0.3T)

 

 

上海沃埃得贸易有限公司为您提供工业型磁光克尔效应设备2，null2产地为日本，属于其它物性测试仪器，除了工业型磁光克尔效应设备的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它物性测试仪器,上海沃埃得客服电话400-860-5168转2623，售前、售后均可联系。

相关产品

上海沃埃得贸易有限公司为您提供工业型磁光克尔效应设备2，null2产地为日本，属于其它物性测试仪器，除了工业型磁光克尔效应设备的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它物性测试仪器,上海沃埃得客服电话400-860-5168转2623，售前、售后均可联系。
Business information
工商信息 信息已认证
当前位置： 上海沃埃得 仪器 工业型磁光克尔效应设备

关注

拨打电话

留言咨询