光刻胶检测系统 光刻胶测试系统

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参考价:面议
型号: IUV-25CP-1
产地: 日本
品牌: 日本分光计器
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上海沃埃得贸易有限公司
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光刻胶检测系统,光刻胶测试系统


用于检测光刻胶的光谱灵敏度(波长特性)。

这是一种光谱系统,它将连续的光(大约240纳米宽)照射到一种光敏材料上,例如光阻剂。标准配置两种光源。一种是能照射强线谱光的深紫外光灯,另一种是能照射连续谱光的氙灯。


规格

波长范围:波长波段一次照射约240nm

辐照有:高度方向:89mm(5-13步)

波长方向80mm(约240nm)

辐照时间:0.01-1200s

辐照步骤:1-13步


上海沃埃得贸易有限公司为您提供日本分光计器光刻胶检测系统 光刻胶测试系统IUV-25CP-1,日本分光计器IUV-25CP-1产地为日本,属于其它光谱仪,除了光刻胶检测系统 光刻胶测试系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其它光谱仪,上海沃埃得客服电话400-860-5168转2623,售前、售后均可联系。

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