AMPTEK X射线探测器FASTSDD大面积探测器 X光探测器

产品详情

匠心艺术之作

70mm2 FAST SDD

Amptek最新研发了一款TO-8封装的70mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使得70mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下，计数率是25mm2SDD探测器的3倍。

特性

l 70mm2有效面积准直到50mm2

l 123ev FWHM @5.9keV

l 计数率>2,000,000cps

l 高峰背比-26000:1

l 前置放大器上升时间<60ns

l 窗口：Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)

l 抗辐射

l 探头晶体厚度500um

l TO-8封装

l 制冷ΔT >85K

l 内置多层准直器

应用

l 超快台式和手持XRF光谱仪

l SEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品

l 在线过程控制

l X射线分拣机

l OEM

70MM2 FWHM 谱图.jpg

FASTSDD-70规格参数

通用
探头类型	硅漂移探头（SDD）
探头大小	70mm2准直到50mm2
硅晶体厚度	500um
5.9keV处⁵⁵Fe能量分辨率	峰化时间4us时，分辨率为123-135eV
峰背比	>20000:1（5.9keV与1keV计数比）
探头窗口	Be:0.5mil(12.5um)或C2（Si3N4）
准直器	内部多层准直器
电荷灵敏前置放大器	CMOS
增益稳定性	<20ppm/℃
外壳尺寸 XR-100FastSDD-70	3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm)
重量 XR-100FastSDD-70	4.4盎司（125g）
总功率 XR-100FastSDD-70	<2W
质保期	1年
使用寿命	取决于实际使用情况，一般5-10年
仓储和物流	长期存放：干燥环境下10年以上仓储和物流：-40℃到+85℃，10%到90%湿度，无凝结
工作条件	-35℃到+80℃

TUV 认证

认证编号：CU 72101153 01

检测于：UL61010-1:2009 R10.08

CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1

输入

前放电源

XR-100FastSDD-70

OEM 配置

±8V@15mA，峰值噪声不超过50mV。

PA210/PA230或X-123：±5V

探头电源

XR-100FastSDD-70

-100到-180V@25uA，非常稳定，

变化<0.1%

制冷电源

电流

电压

最大450mA

最大3.5V，峰值噪声<100mV

注： XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制器

输出

前放

灵敏度

极性

输出上升时间

反馈

典型的3.6mV/keV（不同的探头灵敏度不同）

正输出信号（最大1KΩ负载）

<60ns

复位型

温度监控灵敏度

根据配置不同而变化

当使用PX5，DP5，或X-123时，直接通过软件读取开尔文温度

FastSDD-70 探头可用于Amptek所有的配置中

配置.jpg

供货周期：	现货
品牌：	AMPTEK
货号：	0