资料摘要
资料下载XR-100SDD系列产品由新型高性能X射线硅漂移探头，前置放大器（前放）和致冷系统组成。采用热电致冷技术保持硅漂移探头(SDD)的低温工作环境，而在两级热电致冷器上亦安装了输入场效应管(FET)和新型温度反馈控制电路，这样探头组件的温度保持在约零下55摄氏度左右，并通过组件上的温度传感器显示实时温度。探头采用TO-8封装，并利用不透光和不透气（真空封装适用）的薄铍(Be)窗以实现封装后的软X射线探测。 XR-100SDD系列产品无需采用昂贵的低温制冷系统即可获得非常优越的性能，它标志着X射线探测器生产技术上的一个突破。
文献贡献者
1mm FASTSDD 规格参数
简介：Amptek 开发了TO-8 封装的25mm2 * 1mm 厚的FASTSDD。 和AMPTEK 其他探头有着同样的封装。这样可直接替换25mm2*0.5mm 探头（同样的封装，同样的Pin 脚输出，同样的电压）。15kev 能段以上，在保持同样的性能下，透过效率更高。
新品B4C窗口探测器
简介：Amptek 宣布推出用于Amptek FASTSDD和SiPIN探测器的碳化硼（B4C）窗口。该产品经过多年的努力，旨在给用户和OEM厂商提供以替代标准铍窗的高性能窗口材料。
AMPTEK - PLEAIDES
简介：XRA-700 是一个多通道 X 射线光谱系统，搭载七个高性能 X 射线探测器和低噪声前置放大器以及一个带电源和制冷的控制单元。基于 Amptek 现有宽 能量范围的 X 射线探测器，XRA 700 可以任意组合 Amptek 探测器，为您的实验配置带来前所未有的灵活性。
复位型前置放大器应用
简介：复位型前置放大器波形与介绍。每一次 X射线的相互作用都会产生一个小的台阶信号 ，这些信号在同一个方向上叠加 ，最后复位回到起点。
AMPTEK探测器性能对比
简介：理想的探头在极高的计数率下，分辨率时有限制的。在实际探头高计数率下工作时，信号处理中的峰化时间必须很短，而这样就降低了能量分辨率。本文档主要阐述了能量分辨率和计数率相关指标。
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