断热型比热测定装置
比热容量,潜热,变态点的测定
本装置是根据长崎减三,高木丰两位博士在1945年研究的测定方法而开发的设备。用独自研发的断热控制方式精确地测出热容量,潜热,变态点等。
用途:
对于各种材料的比热测定。
对于高分子材料的玻璃转移的测定。
对于固体反应,来自固体的液体反应速度的分析。
特点:
由于采用了断热控制,在基本平衡状态下进行测定。
基于比热容量测定原理,由内部微型加热器施加焦尔热,精确地测出试样温度的上升。
技术指标:
温度范围 |
1.50~800℃ 2.室温-150~100℃ |
试样尺寸 |
φ20/18mm×20mm长 |
测定温度间隔 |
1,2,5,10℃ |
测定制度 |
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测定气氛 |
不活性气体,(300℃大气中) |
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