贝拓科学Betop 白光干涉测厚仪Delta

参考价：¥13万

型号：	Delta
产地：	广东
品牌：	贝拓科学
评分：

核心参数

产地类别：国产

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TF200光学膜厚仪

贝拓科学研究型接触角测量仪DSA-X

贝拓台式X射线衍射仪BRAGG110

产品详情

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Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。

产品特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

应用案例

应用领域

●半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）

●LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)

●LED (SiO2、光刻胶ITO等）

●触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)

●汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）

医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）

技术参数

型号	TF200-VIS	TF200-DUV	TF200-XNIR
波长范围	380-1050nm	190-1100nm	900-1700nm
厚度范围	50nm-40um	1nm-30um	10um-3mm
准确度¹	2nm	1nm	10nm
精度	0.2nm	0.2nm	3nm
入射角	90°	90°	90°
样品材料	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明
测量模式	反射/透射	反射/透射	反射/透射
光斑尺寸²	2mm	2mm	2mm
是否能在线	是	是	是
扫描选择	XY可选	XY可选	XY可选

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广州贝拓科学技术有限公司为您提供贝拓科学Betop 白光干涉测厚仪Delta，贝拓科学Delta产地为广东，属于国产白光干涉测厚仪，除了贝拓科学Betop 白光干涉测厚仪Delta的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供接触角测量仪DSA-X、贝拓科学自动型接触角分析仪 DSA-X Plus、TF200光学膜厚仪,贝拓科学客服电话400-668-1210，售前、售后均可联系。

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