Agilent7500系列ICP-MS的高基体样品引入(HMI)附件的性能特点

2018-04-24 10:25  下载量:9

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高基体样品中多种痕量元素的测定一直是一个困难的 分析挑战。ICP 光学发射光谱(OES)具有优良的基 体承受能力和多元素同时分析能力,但灵敏度不足, 而且易受到复杂的光谱干扰。ICP-MS 具有难以逾越 的灵敏度和较少的干扰,但对可溶固体含量必须限制 到大约 0.1% 或更低。

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