高速高效能的三雷射系统粒径分析仪

2013-01-09 12:12  下载量:9

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宽广的测量范围采用专利的三雷射光源,测量范围宽达0.02-2,800μm,固定多元侦测器配合三雷射光源,同步收集全范围的散射光信号,高精密度独家引进非球形颗粒的Mie理论校正因子,内建常用物质光学数据,提高测试精密与准确度,友善的用户接口新型迷你样品循环系统,大幅减少操作所需有机溶剂,保护操作者安全,亲切的软件操作接口,数据计算全自动。

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