本系统可以测试半导体材料或其他发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。通常情况下采用紫外或近紫外激光激发半导体材料(如GaN、Zno、CdTe 等)产生荧光;或用可见、红外激光器激发稀土参杂的玻璃或晶体材料产生的荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析材料能带结果等特征。
系统型号 |
系统特点 |
7-PLSpec I |
常温扫描型 |
7-PLSpec II |
低温扫描型 |
7-PLSpec M |
Mini 摄谱型 |
技术指标
-
光谱范围:200-2500nm (可根据实际需要选择)
-
波长准确度:±0.2nm
-
光谱分辨率:±0.1nm
-
光谱带宽:0.2-10nm 可调
-
光源波长:224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm、946nm、1946nm等可选
-
可升级做透射、反射光谱测试
北京赛凡光电仪器有限公司为您提供赛凡光电7-PLSpec 系列光致发光光谱测试系统,赛凡光电7-PLSpec产地为北京,属于光学类仪表,除了7-PLSpec 系列光致发光光谱测试系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供硅太阳电池光谱性能测试系统、7-SCSpecII 硅太阳电池光谱性能测试系统、7-SC200 硅电池QE/IPCE 测试仪,赛凡光电客服电话400-860-5168转2776,售前、售后均可联系。