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CCD 光电性能测量系统又称CCD成像电子学系统光电联试定量测试设备。本系统能够解决空间光学遥感器研制中光电成像器件选型、采取抗辐射加固设计及辐射校正设计及为光电成像器件受辐照后性能变化的机理研究提供检测手段等诸多科学问题；同时能够在业界对光电成像器件抗辐射性能评价的标准化和规范化起到积极推进作用。 </p><p><strong>技术指标</strong></p><ul class=" list-paddingleft-2"><li><p>
工作光谱波段：380nm~1000nm</p></li><li><p>
光谱分辨率：20nm~40nm</p></li><li><p>
A/D 量化等级：14bit</p></li><li><p>
动态范围：80dB</p></li><li><p>
测量绝对值不确定度：低于8%</p></li><li><p>
重复性误差：不大于3%</p></li></ul><p><strong>测试内容</strong></p><ul class=" list-paddingleft-2"><li><p>
饱和输出电压（SV)</p></li><li><p>
饱和曝光量 （SE)</p></li><li><p>
光辐照响应度（灯光照明下的R)</p></li><li><p>
相对光谱响应度 Rs</p></li><li><p>
响应度非均匀性（PRNU)</p></li><li><p>
电荷转移效率（CTE)</p></li><li><p>
光谱和白光传递函数（MTF)</p></li><li><p>
暗信号 （DS)</p></li><li><p>
暗噪声 （v<sub>NOISE</sub> )</p></li><li><p>
噪声等效曝光量（NEE)</p></li><li><p>
动态范围 （DR)</p></li><li><p>
非线性度 （NL)</p></li><li><p>
固态图片噪声 （FPN)</p></li></ul>
北京赛凡光电仪器有限公司为您提供赛凡光电7-CRD CCD 光电性能测量系统，赛凡光电7-CRD CCD 光电性能测量系统产地为北京，属于光学类仪表，除了7-CRD CCD 光电性能测量系统的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供7-UV001紫外像管光电管测试系统、7-OSSR 光学表面散射系数测量系统、7-LSM LED 老炼试验光谱测试系统,赛凡光电客服电话400-860-5168转2776，售前、售后均可联系。
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