资料摘要
资料下载EMPro是针对高端研发和质量控制领域推出的极致型多入射角激光椭偏仪。 EMPro可在单入射角度或多入射角度下进行高精度、高准确性测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k;也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k;亦可用于实时测量快速变化的纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的绝对厚度测量。 EMPro采用了量拓科技多项专利技术。
量拓科技椭偏仪综合目录
简介:量拓科技椭偏仪综合目录 激光椭偏仪 光谱椭偏仪 教学椭偏仪 在线椭偏仪 椭偏仪测试服务及整体解决方案
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