硅片厚度测量仪配件_价格-孚光精仪（中国）有限公司

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硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化（TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。

硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。

硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS，晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。
硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。
硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度（trench depth)。

硅片厚度测量仪配件由孚光精仪（中国）有限公司为您提供，如您想了解更多关于硅片厚度测量仪配件价格、规格、特点、分类选择等信息，欢迎咨询厂家。除供应硅片厚度测量仪配件外，还可为您提供流动液体ATR配件、多用途脉冲源APG1、高压阶梯波发生器 FPKEN-ASG1 等耗材，公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴，孚光精仪客服电话。

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供货周期：	现货
品牌：	孚光精仪
货号：	4331117