方案摘要
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标准的光学器件足够用于检测二维物体,例如,检测印刷电路板上的痕迹或对非平面物体进行定量分析。但是,在对三维物体的精准测量或特征比对中,例如,注塑件的弯曲表面,上述误差很容易产生问题。 选择配备适当光学器件的显微镜能够显著减少隐藏缺陷,提供更精准、再现性更高的测量结果,而这两项特性都是现代检测和光学测量中必不可少的。
标准的光学器件足够用于检测二维物体,例如,检测印刷电路板上的痕迹或对非平面物体进行定量分析。但是,在对三维物体的精准测量或特征比对中,例如,注塑件的弯曲表面,上述误差很容易产生问题。
选择配备适当光学器件的显微镜能够显著减少隐藏缺陷,提供更精准、再现性更高的测量结果,而这两项特性都是现代检测和光学测量中必不可少的。
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