原位薄膜厚度测量仪

原位薄膜厚度测量仪

参考价：¥30万 - 50万
型号： MPROBE 50 INSITU
产地： 美国
品牌： 昊量
评分：
核心参数
上海昊量光电设备有限公司
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产品详情


MPROBE 50 INSITU – 实时薄膜厚度测量仪


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原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU用于测量薄膜厚度和 n&k（光学常数）的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作，因为它使用门控数据采集。原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU使用高强度闪光氙灯在宽带 ( UV-NIR) 波长范围内进行精确测量。MProbe 50 系统是完全可定制的，以支持不同的真空室几何形状。原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU根据可用的光学端口，可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在样品表面或准直。反射探头可以放置在沉积室光学端口的外部或内部（使用光纤馈通）。MProbe 50 系统没有活动部件。典型测量时间~10ms。可以快速可靠地测量任何半透明薄膜。

 

原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU优势：

1.原位薄膜厚度和 n&k 测量

2.用于高环境光环境下测量的门控数据采集

3.材料：500+ 扩展材料数据库

4.连续、快速和可靠的测量

5.灵活的配置——完全定制以匹配沉积室的几何形状


 原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU选型列表：

MProbe50 

 波长范围

    厚度范围

   VIS

400nm -1100nm

   15nm – 20 μm

 HRVIS

700nm-1000nm

    1μm-400μm

   NIR

900nm-1700nm

  100nm – 200μm

  UVVisF

200nm -900nm

   1nm – 20μm

 UVVISNIR

200nm-1700nm

   1nm -200μm

XT

1590nm -1650nm

   10μm-1mm




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上海昊量光电设备有限公司为您提供昊量原位薄膜厚度测量仪MPROBE 50 INSITU，昊量MPROBE 50 INSITU产地为美国，属于进口其它光学测量仪，除了原位薄膜厚度测量仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供中红外FROG超短脉冲测量仪、工业专用M^2测量仪、Gigahertz Optik可见-近红外LED光通量颜色测量仪,昊量光电客服电话400-860-5168转2831，售前、售后均可联系。

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