DRK203C 台式高精度薄膜测厚仪 箔片厚度精确测量设备,依据GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777等标准研发制造,适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
DRK203C 台式高精度薄膜测厚仪 箔片厚度精确测量设备,产品在科研、工业生产等领域都有广泛的应用,它可以为企业提供快速、准确的薄膜厚度测量服务,帮助企业提高生产效率和产品质量。
DRK203C 台式高精度薄膜测厚仪 箔片厚度精确测量设备,【产品特点】
1. 接触式测量
2. 测头自动升降
3. 自动测量模式
4. 数据实时显示、自动统计、打印
5. 显示值、最小值、平均值和统计偏差
6. 标准接触面积、标定压强
7. 标准量块标定测量参数
8. 数据分析功能
DRK203C 台式高精度薄膜测厚仪 箔片厚度精确测量设备,【技术参数】
1. 测量范围:0~3mm
2. 分辨率:0.1μm 精度:1级
3. 测量速度:5次/min(可调);测头移动速度:3mm/s(可调)
4. 接触面积:28mm (直径6mm) 非标可定制
注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。
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