nano-TA产品手册

nanoIR+AFM 纳米红外光谱&多功能原子力显微镜第一届研讨会开幕在即

简介： 玛瑞柯公司主办的第一届纳米红外光谱&多功能原子力显微镜研讨会将于2014年12月底在北京和上海两地隆重召开，现诚邀您的光临！ 会议时间：2014年12月27-28日 上海 （上海总部） 2014年12月30-31日 北京 （北京化工大学） 会议内容：详细介绍纳米红外光谱（nanoIR）和多功能原子力显微镜（afm+）的原理、功能及应用。 邀请日本材料分析资深专家现场演示nanoIR和afm+的使用和功能，分享和讨论其在材料分析中的应用案例。 参会人员：（一）对原子力显微镜、纳米红外光谱、纳米热分析感兴趣的学生或科研人员； （二）从事高分子材料、生命科学材料的科研人员； （三）从事材料表面和界面分析的科研人员； 会议特别活动： 研讨会提供免费样品测试，欢迎与会人员携带样品现场体验nanoIR和afm+的独特功能。 具体请见附件。 如有兴趣，请随时电话联系我们报名。

玛瑞柯公司（MASRC)新一轮招聘正在如火如荼进行中

简介： 玛瑞柯（上海）贸易有限公司是美国Anasys Instruments公司在中国的独家代理商。随着国内业务的不断扩大，现诚聘英才，我们将提供有竞争力的薪酬和美国培训的机会。工作地点为上海。现招聘职位有：应用工程师 1名（博士学历）；销售工程师 1名 （硕士学历以上）； 行政兼销售助理 1名（本科）。 具体请下载招聘信息或登录我司官方网站查看。http://www.masrc-china.com/

玛瑞柯公司（MASRC)官方网站正式开通成功上线

简介： 经过公司市场部等相关部门和网络制作服务公司近一个月的努力，玛瑞柯（上海）贸易有限公司官方网站近日正式开通上线。欢迎大家登陆浏览，获取更多我公司的产品介绍、最新动态以及技术资料。网址如下： www.masrc-china.com

玛瑞柯公司（MASRC）将参展2014年10月“能源与交通材料国际会议”

简介：玛瑞柯公司（MASRC)将参加2014年10月16-17日在四川成都举办的“能源与交通材料国际会议”，欢迎莅临指导。 本次会议由四川大学高分子材料工程国家重点实验室，四川大学油气藏地质及开发工程国家重点实验室联合美国Texas A&M University共同主办。 会议主题： 1 极端环境下的高分子材料（Polymers in extreme environments） 2 储能材料（Materials for energy storage） 3 能源与交通材料（Materials for energy and transportation） 4 轻质结构材料（Light-weight structural materials） 5 先进的高分子材料加工与表征方法（Advanced processing andcharacterization of polymers） 6 高分子材料的耐久性与寿命预测（Reliability and lifetime prediction）

纳米级红外光谱用于聚合物的表征

简介：尽管红外微光谱有广阔的用途，但是由于光学 规则与实际设计的局限性，其基本的空间分辨率受到 了限制。傅里叶变换红外光谱的空间分辨率局限于3 倍的红外辐射波长。通过使用衰减全反射(ATRl的方 式，可以将其空间分辨率接近于其辐射波长。本文 将描述一种新的技术可以解决分辨率的限制，提供 一种在200 nm及其之上可以测量样品物理和化学性 质的方法。 1从微米级光谱到纳米级光谱 美国Anasys Instruments研发的纳米级红外光谱(Nano IR)系统 通过利用原子力显微镜(AFM)的针尖测量红外吸收的方式，突破了传统 的红外光谱分辨率的局限。样品通过可调的红外源 进行修饰。当红外射线被某一区域的样品吸收的时 候，该区域就被加热了。这种热可以产生出一个快 速热膨胀的脉冲，该脉冲可以被AFM悬臂尖端检测 到。与“远场”光学相比，该技术特点在于：吸收 的辐射可以通过极端近场的尖端得到测量。 AFM在纳米尺度研究测量有较好的应用，并且 已很好地应用于材料科学和工程方面。若应用于纳 米科学与纳米技术研究领域将能获得数十亿美元研 究经费的投资，这一点已被广泛认可。但AFM不足 之处在于：不能测量出样品的化学性质。实际上， 在AFM针尖下能够鉴定出材料性质的能力被人们认 为是探针显微分析的重要目标。 当AFM测量出材料的力学、电学、磁学和热学 性质时，对于材料的化学性质却是未知的。在此， Nano IR能够在亚微型的尺度上实现对分析样品的红 外光谱分析，测定由特定分子振动引起的红外波长 吸收，并提供AFM针尖下样品的化学信息。 传统的傅里叶变换红外光谱的分辨率限制于一 种被称为衍射极限的基本物理极限。衍射极限使其空 间分辨率被限制为只是几倍于使用光的波长。通常情 况下，分辨率的局限性大概是传统的发射波长的3倍 或者与较优的仪器(例如ATR)相同的波长。在c—H区 域，大约相当于3一10um。与之相比，Nano IR仪器 的空间分辨率可以在测量测度上达到低至200 nm。