资料摘要
资料下载proXAS是一台实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速，准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1900极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C，N，O，Ca，Ti等元素边。
高分辨率非晶硒X射线探测器_datasheet
简介：KA Imaing 自有专利的非晶硒（a-Se）X射线相机BrillianSeTM，专用于高亮度成像。基于高本征空间分辨率的非晶硒（a-Se）光电导器件，a-Se/CMOS混合探测器可将X射线直接转换为电子电荷。电信号再经由低噪声的主动式像素传感器（APS）CMOS读出。
X射线相衬微米CT系统_datasheet
简介：inCiTe™微型CT扫描仪是第一款采用基于KA Imaging公司独家开发的高空间分辨率非晶硒（a-Se）探测器专利技术BrillianSe™的商业化X射线CT扫描仪。高空间分辨率和探测效率的 BrillianSe™X射线相机可在便携式台式系统中实现快速的相衬成像和传统的显微CT。
hiXAS桌面X射线吸收精细结构谱仪_datasheet
简介：HiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。
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