| 型号： | TEMP 2000A |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | AZ technology |
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| EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。 TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长<3微米> 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的±1％- ±3％满量程非灰样品重复性- 满量程的±0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：≥0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： ≥ 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：≥ 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25“X 6.8”长控制和显示单位：4.5×7.75×7英寸便携包：12.5×17×11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工 |
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