资料摘要
资料下载BQS-37a型高压电桥是本公司推出的新一代高压电桥，主要用于测量工业绝缘材料的介质损耗(tgδ)及介电常数（ε）。符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998(2004) 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法其采用了西林电桥的经典线路，内附0-2500的数显高压电源及100PF标准电容器，并可按用户要求扩装外接标准电容线路。
文献贡献者
交流击穿电压测量仪
简介：1.1设备名称：交流击穿电压测量仪 1.2数量：1套，包括：耐压测试系统、油槽、非屏蔽高压线、高压回线、机柜轮、闪烁灯、紧急制动盒、外部接地继电器。 我司耐电压击穿试验仪有微机控制 可自动升压 可随意选择升压速度无需手动旋转机柜轮击穿以后自动断电 无需手按紧急制动 避免高压危险。
拉力机说明书
简介：YF-900系列微机控制万能试验机，主要用于橡胶、塑料、电线、汽车线束端子等，进行拉伸、撕裂、剥离等力学性能测试分析，可根据GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等标准，配备大变形引伸计，可自动求出抗拉强度、撕裂强度、断裂伸长率、定伸长应力等参数，并可以打印出相应的性能指标、曲线。 本系列产品广泛用于金属、非金属材料的拉、压、弯剪等力学性能试验。配以种类繁多的附具，还可用于型材和构件的力学性能试验。在试样变形大，试验速度快的绳、带、丝、橡胶、塑料等材料试验领域，同样具有非常广泛的应用前景。适用于质量监督、教学科研、航空航天、钢铁冶金、汽车、建工建材等试验领域。
材料撕裂试验机
简介：材料撕裂试验机BWN 功能介绍 1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、 2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性 3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间 4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变 5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制 6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失 7.测试过程：试验过程及测量、显示、分析等均由微机完成 8.批量试验：对相同参数的试样，一次设定后可顺次完成一批试验 9.试验软件：中文Windows用户界面，操作简便 10.显示方式：数据与曲线随试验过程动态显示 11.曲线遍历：试验完成后，可对曲线进行放大再分析，用鼠标查到试验曲线上各点对应的数据 12.试验报告：可根据用户要求进行编辑打印 13.限位保护：具有程控和机械两级限位保护 14.过载保护：当负荷超过额定值3～5%时，自动停机 15.报告显示：自动和人工两种模式求取各种试验结果，自动形成报表，使数据分析过程变的简单，便于用户 16.添加试验方法：用户可跟据试验要求，添加试验方法
塑料球压痕硬度仪参数介绍
简介： 塑料球压痕硬度仪是在指以规定直径的钢球，在试验负荷作用下，垂直压入试样表面，保持一定时间后单位压痕面积上所承受的平均压力测试仪。 我公司研制的塑料球压痕硬度仪，采用自动加载、计时选择、变形采集等方式、并淘汰了普遍采用的数码块显示方式，而采用触屏彩显中文汉字显示、语音提示。这样，操作者在开机之后就可以根据液晶屏上的汉字提示进行试验操作，极大的方便了用户。塑料球压痕硬度仪各项参数符合GB3398.1-08塑料 硬度测定 第1部分球压痕法、ISO 2039-1-2001 塑料 硬度测定 第1部分压球法： 等相关标准中的规定。
半导电电阻率测试仪
简介：BEST-300C型材料电导率测试仪是运用四探针测量原理测试试导体、半导体材料电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。 仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头和测试台等三部分组成。 主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。自动/手动量程可选；电阻率、方阻、电阻测试类别快捷切换：仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便可靠；具有零位、满度自校功能；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电锂电池供电，适合手持式变动场合操作使用！ 探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。 仪器具有测量范围宽、精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、外形美观、使用简便等特点。 仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
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