Zeiss FIB 聚焦离子束电镜

  来自蔡司的AURIGA Cross Beam (FIB-SE M）工作站结合了成像能力出色的 G EMINI 镜筒和聚焦离子束镜筒。用户可对材料表面进行高分辨成像和精确的分析。采用超高精度的 离子束切割样品，可进一步对材料内部结构进行表征，并呈现完整的三维结构信息。

它可以由客户自主选择应用目的.具有独特的成像能力

? 在有局部电荷中和器的条件下，可以使用所有的标准探测器进行非导体样品的成像 ? 在一个包括EsB技术的独特探测器设计中，可同时探测形貌和组分信息。

? 具有GEMINI物镜设计，可进行磁性样品的研究先进的分析能力

? 具有局部电荷中和器，可进行非导体材料的分析

? 具有15个附属接口的多用途样品室

? 最佳的样品室几何设计EDS,EBSD,STEM,WDS,SIMS等附属设备精确的处理能力

? 创新的FIB技术，具有最高级别的分辨率

 ? 在FE-SEM实时监控整个样品制备的过程中，具有高的分辨率

 ? 先进的气体处理技术，用于离子束和电子束的辅助刻蚀和沉积客户自主选择和未来的可扩展性

? 基于一种全面的模块化的理念，AURIGATM CrossBeam工作站可以由客户自行进行选择，以满足其今天以及未来的个性化应用。

? 从一个高性能的FE-SEM平台出发，这个系统伴随着广泛的可选的硬件和软件品种而升级，如：FIB,GIS,局部电荷中和系统和不同的探测器