型号: | SID4 DWIR, SID4 LWIR-640,SID4 IR-MCT |
产地: | 法国 |
品牌: | Phasics |
评分: |
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SID4 DWIR & SID4 LWIR-640 & SID4 IR-MCT(红外光)
a. 基于专利技术的SID4 DWIR是一个独特的波前分析仪,它覆盖中红外波段和远红外波段(3-5um& 8- 14um), 对于MWIR和LWIR,它提供了高分辨率的测量(160 x 120)范围,是完全适合红外目标,镜头测试或光束测量的红外激光器(二氧化碳、光参量来源…);
b.SID4 LWIR是一个超高分辨率波前传感器,在长波红外区域(8-14um)相位的专利技术以及非制冷焦平面阵列技术使它简洁且易于使用, 因此很容易集成到光具座,远红外线镜头测试或激光光束测量链(二氧化碳激光器, LWIR来源……)。
c.这种独特的波前分析仪拥有极高分辨率和超高灵敏度,并且它在短波红外成像的范围从1.2um到5.5um,因此它完全适在低光红外源,如以黑体或镜头为目标的测试或红外光谱的激光光束测量。
主要特点及推荐应
a. SID 4 DWIR
特点
高分辨率 160*120
双频 MWIR&LWIR波段
消色差 兼容黑体
高数值孔径测量 没有中继透镜
应用
1. 光学测量, SID4 DWIR在描述红外目标(热成像和安全愿景),红外镜头(CO2激光器),MTF,PSF,以及Zernike畸变是非常完美的工具,它也可测试多个波长可能存在的色差
2. 在表征激光束的CO2激光器或红外激光源,SID4 DWIR提供了一个全面的光束特性(畸变,M2,强度剖面图,光束参数…)
b.SID4 LWIR
特点
高分辨率 160*120
消色差 8-14um
超长波段 1.2-5.5um
高数值孔径测量 没有中继透
便于集成
应用
1. 对于光学计量,SID4 LWIR是一种独特的工具,用来描述光学的红外热成像,安全性或安全愿景等,并且它也是组成CO2激光器的光学部件,它提供了MTF和畸变。由于它的简洁性,因此可以在工作台或者生产线上进行简单的集成。
2. 在激光计量方面,SID4 LWIR给出了全面的光束特性(M2,Strehl radio,强度剖面图,光束参数…)。它适用于远红外线光束测量如CO2激光器,LWIR光参量激光器等
c. SID4 IR-MCT
特点
超高灵敏度 3nm RMS@3uW/cm^2
高分辨率 160*128
即使在低通量条件下依然具有高精确度
超长波段 1.2-5.5um
高数值孔径测量 在F/1前没有中继透镜
上一代冷却MCT探测器
应用
1. 对于光学计量,SID4 IR-MCT是一种独特的工具,用于描述红外目标或镜头MTF以及畸变和WFE。其高灵敏度也可以和黑体一起进行高光谱测试
2. 在激光计量方面,在低红外光范围,量子级联激光器或红外光谱激光器,SID4红外是现有唯一的工具。它提供了一个完整的光束特征参数(畸变,M2,强度剖面图,光束参数……)
具体详细参数
参数 | 单位 | SID4 DWIR | SID4 LWIR | SID4 IR-MCT |
波长范围 | um | 3-5and8-14 | 8-14 | 1.2-5.5 |
孔径尺寸 | mm^2 | 10.88*8.16 | 16*12 | 9.60*7.68 |
最大孔径 | mm^2 | F/1 | ||
空间分辨率 | um | 68 | 100 | 60 |
精确度 | nm RMS | 75 | 75 | |
相位和强度抽样 | 160*120 | 160*120 | 160*128 | |
灵敏度 | nm RMS@uW/cm^2 | 25nm RMS | 25nm RMS | 3nm RMS@3uW/cm^2 |
动态范围 | um | 300 | ||
采集率 | fps | 50 | 24 | 140 |
实时处理频率 | fps(full resolution) | 10 | 10 | 20 |
检测技术 | Cooled MCT | |||
尺寸(w*h*l) | mm | 85*115*193 | 96*110*90 | 135*140*240 |
重量 | kg | ~1.6 | ~0.85 | ~3.5 |
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